ATE的技术演进规律及多点测试的成本分析 |
| |
引用本文: | 李文石,刘晶.ATE的技术演进规律及多点测试的成本分析[J].中国集成电路,2010,19(10):60-65. |
| |
作者姓名: | 李文石 刘晶 |
| |
作者单位: | 苏州大学电子信息学院微电子学系,苏州215006 |
| |
摘 要: | 经由专用发展而成通用的ATE的新趋势之一是并行测试。并行系统的设计原理揭示自阿姆达尔定律。依据ITRS-2009对比2005年的ATE基础数据,计算分析了多点ATE测试的成本优势。
|
关 键 词: | ATE 演进规律 阿姆达尔定律 并行测试 成本分析 |
本文献已被 维普 万方数据 等数据库收录! |
|