|
|||||
|
|
| ATE的技术演进规律及多点测试的成本分析 | |
| 引用本文： | 李文石,刘晶.ATE的技术演进规律及多点测试的成本分析[J].中国集成电路,2010,19(10):60-65. |
| 作者姓名： | 李文石 刘晶 |
| 作者单位： | 苏州大学电子信息学院微电子学系,苏州215006 |
| 摘 要： | 经由专用发展而成通用的ATE的新趋势之一是并行测试。并行系统的设计原理揭示自阿姆达尔定律。依据ITRS-2009对比2005年的ATE基础数据,计算分析了多点ATE测试的成本优势。 |
| 关 键 词： | ATE 演进规律 阿姆达尔定律 并行测试 成本分析 |
| 本文献已被 维普 万方数据 等数据库收录！ | |