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永磁扰动检测有限元分析及优化设计
引用本文:蔡智超,刘素贞,张闯,金亮,杨庆新. 永磁扰动检测有限元分析及优化设计[J]. 电工技术学报, 2015, 30(3): 67-72
作者姓名:蔡智超  刘素贞  张闯  金亮  杨庆新
作者单位:1. 河北工业大学电磁场与电器可靠性省部共建重点实验室 天津 300130
2. 天津工业大学电工电能新技术天津市重点实验室 天津 300387
3. 河北工业大学电磁场与电器可靠性省部共建重点实验室 天津 300130;天津工业大学电工电能新技术天津市重点实验室 天津 300387
基金项目:国家自然科学基金,河北省自然科学基金
摘    要:永磁扰动检测是一种新型无损检测技术,通过永磁扰动传感器在铁磁构件表面扫查并拾取受缺陷影响下静磁场变化情况来判别缺陷尺寸大小。本文深入分析了永磁体与缺陷的扰动机制,并针对传感器设计理论不足、永磁扰动检测信号微弱等问题,提出了采用环绕式体线圈探测永磁体内产生的磁扰动及采用螺旋线圈探测永磁体与缺陷间的外磁扰动,并在此基础上探究感应线圈及永磁体的几何参数对永磁扰动检测效率的影响。通过有限元模型多参数化扫描及正交试验设计方法对永磁扰动传感器进行了优化设计,该方法能够有效地提高永磁扰动内、外感应电压的幅值。

关 键 词:内永磁扰动  外永磁扰动  有限元分析  优化设计  正交试验设计

Finite Element Analysis and Optimum Design of Permanent Magnetic Field Perturbation Testing
Cai Zhichao,Liu Suzhen,Zhang Chuang,Jin Liang,Yang Qingxin. Finite Element Analysis and Optimum Design of Permanent Magnetic Field Perturbation Testing[J]. Transactions of China Electrotechnical Society, 2015, 30(3): 67-72
Authors:Cai Zhichao  Liu Suzhen  Zhang Chuang  Jin Liang  Yang Qingxin
Affiliation:Cai Zhichao;Liu Suzhen;Zhang Chuang;Jin Liang;Yang Qingxin;Province-Ministry Joint Key Laboratory of Electromagnetic Field and Electrical Apparatus Reliability Hebei University of Technology;Key Laboratory of Advanced Electrical Engineering and Energy Technology Tianjin Polytechnic University;
Abstract:
Keywords:Inner PMFP  outer PMFP  finite element analysis  optimum design  orthogonal test design
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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