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AlGaN/GaN和AlGaN SBD的温度特性研究
引用本文:李菲,吕长志,段毅,张小玲,李颖,张志国. AlGaN/GaN和AlGaN SBD的温度特性研究[J]. 半导体技术, 2009, 34(5). DOI: 10.3969/j.issn.1003-353x.2009.05.023
作者姓名:李菲  吕长志  段毅  张小玲  李颖  张志国
作者单位:北京工业大学,电子信患与控制工程学院,微电子可靠性研究室,北京,100124;首钢工学院,机电工程系,北京,100041;中国电子科技集团公司,第十三研究所,石家庄,050051
摘    要:研究了AlGaN/GaN异质结构上的肖特基接触的基本原理及载流子的高温输运特性.将AlGaN/GaN异质结SBD和AlGaN SBD,在27~250℃进行实验比较.发现随着温度上升,AlGaN SBD的势垒高度下降,理想因子增加,其影响因素包括热电子发射、场发射、隧穿效应及复合电流效应等机制.而AlGaN/GaN异质结SBD由于受到压电极化场和2DEG和的影响,其势垒高度和理想因子随温度的变化趋势与AlGaNSBD相反.实验结果还显示,AlGaN/GaN异质结SBD的反向电流随着温度的上升,呈现先增大后减小的趋势.

关 键 词:肖特基二极管  肖特基势垒高度  理想因子  温度  二维电子气

Study on the Temperature Characteristics of AlGaN/GaN and AlGaN SBDs
Li Fei,Lü Changzhi,Duan Yi,Zhang Xiaoling,Li Ying,Zhang Zhiguo. Study on the Temperature Characteristics of AlGaN/GaN and AlGaN SBDs[J]. Semiconductor Technology, 2009, 34(5). DOI: 10.3969/j.issn.1003-353x.2009.05.023
Authors:Li Fei  Lü Changzhi  Duan Yi  Zhang Xiaoling  Li Ying  Zhang Zhiguo
Affiliation:1.Microelectronic Reliablity Lab.;School of Electronic Information & Control Engineering;Beijing University of Technology;Beijing 100124;China;2.Department of Mechanical and Electric Engineering;Shougang Institute of Technology;Beijing 100041;3.The 13th Research Institute;CETC;Shijiazhuang 050051;China
Abstract:
Keywords:SBD  Schottky barrier height  ideality factor  temperature  2DEG  
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