斜光轴剪切散斑干涉法

本文提出了斜光轴剪切散斑干涉法。利用该方法可以单独地,直接获得物体离面位移的各项导数,避免了因分离各项导数而引入的误差,从而使得剪切散斑干涉法的应用更加简便,精确。同时为位移导数的分离提供了新的途径。