| GaAs MMIC可靠性研究与进展 |
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| 引用本文： | 吴海东,庄志强,莫郁薇,张增照,聂国健.GaAs MMIC可靠性研究与进展[J].电子产品可靠性与环境试验,2001(1):29-33. |
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| 作者姓名： | 吴海东 庄志强 莫郁薇 张增照 聂国健 |
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| 作者单位： | 1. 华南理工大学材料工程系,
2. 信息产业部电子第五研究所, |
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| 摘 要： | 介绍了GaAs器件及MMIC的可靠性研究现状 ,给出了GaAs器件的几种失效模式和失效机理
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| 关 键 词： | 砷化镓器件 单片微波集成电路 可靠性 失效 |
| 修稿时间： | 2000年11月3日 |
The Development of Reliability Research on GaAs MMICs |
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| WU Hai-dong ,ZHUANG Zhi-qiang ,MO Yu-wei ,ZHANG Zeng-zhao ,NIE Guo-jian.The Development of Reliability Research on GaAs MMICs[J].Electronic Product Reliability and Environmental Testing,2001(1):29-33. |
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| Authors: | WU Hai-dong ZHUANG Zhi-qiang MO Yu-wei ZHANG Zeng-zhao NIE Guo-jian |
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| Affiliation: | WU Hai-dong 1,ZHUANG Zhi-qiang 1,MO Yu-wei 2,ZHANG Zeng-zhao 2,NIE Guo-jian 2 |
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| Abstract: | This paper introduces the development of reliability researches on GaAs devices and MMICs. Failure modes and failure mechanisms of some GaAs devices are presented. |
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| Keywords: | GaAs devices MMIC reliability failure |
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