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薄膜导热系数的测量方法及技术
引用本文:王伟伟,张敏,李凌智,柳清菊. 薄膜导热系数的测量方法及技术[J]. 功能材料, 2010, 41(5)
作者姓名:王伟伟  张敏  李凌智  柳清菊
作者单位:云南大学,云南省高校纳米材料与技术重点实验室,云南,昆明,650091;云南大学,云南省高校纳米材料与技术重点实验室,云南,昆明,650091;云南大学,云南省高校纳米材料与技术重点实验室,云南,昆明,650091;云南大学,云南省高校纳米材料与技术重点实验室,云南,昆明,650091
基金项目:云南省应用基础研究计划重点资助项目 
摘    要:随着微型机电系统及集成电路的发展,器件中大量使用了微米、纳米量级厚度的薄膜,对其导热系数测量的研究有助于器件的设计和热优化工作。综述了当前几种测量薄膜导热系数的主要方法及技术,分析了各自的优点及不足,并对其以后的发展趋势做了简要分析。

关 键 词:薄膜  导热系数  测量

Measurement methods and technology of thin-film thermal conductivity
WANG Wei-wei,ZHANG Min,LI Ling-zhi,LIU Qing-ju. Measurement methods and technology of thin-film thermal conductivity[J]. Journal of Functional Materials, 2010, 41(5)
Authors:WANG Wei-wei  ZHANG Min  LI Ling-zhi  LIU Qing-ju
Abstract:
Keywords:
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