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| 样品厚度对高纯锗γ谱仪探测效率的影响 | |
| 引用本文： | 陈劲松,杨浩,杨本俊,张明礼,王琳贤.样品厚度对高纯锗γ谱仪探测效率的影响[J].核技术,2011(9):683-688. |
| 作者姓名： | 陈劲松 杨浩 杨本俊 张明礼 王琳贤 |
| 作者单位： | 南京师范大学地理科学学院; |
| 基金项目： | 国家自然科学重点基金(41030751); 国家自然科学面上基金(40873071); 江苏省教育厅重大项目(09KJA170002); 江苏高校优势学科建设工程资助 |
| 摘 要： | 通过对不同厚度样品的γ射线测量,得出波谱峰面积与样品厚度的关系,并通过相对测量和效率刻度测量方法,计算不同厚度样品在46.5、351.9、477.6、661.7 keV能量下的探测效率.探测效率随样品厚度的变化较大,不同厚度样品的4种探测效率最大值平均为最小值的2.6倍.实验结果显示:探测效率随样品厚度增加而逐渐减小,... |
| 关 键 词： | 高纯锗γ谱仪 探测效率 样品厚度 |
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