基于攻击树的安全芯片穿透性测试评估

随着安全芯片应用范围的不断扩大和应用环境的日趋复杂,需要通过穿透性测试验证芯片的安全性,同时有必要对测试进行评估。为此,提出一种基于攻击树模型的安全芯片穿透性测试评估方法。分析安全芯片的穿透性测试过程,采用攻击树模型作为穿透性测试的描述模型,在此基础上提出攻击事件的多属性赋值方法、攻击代价的推算方法和攻击路径的分析方法。应用结果表明,该方法可准确评估安全芯片穿透性测试结果。