| 数字电路的层次化测试生成新趋势 |
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| 引用本文： | 薛月菊,王红,杨士元,邢建辉,邓雨春.数字电路的层次化测试生成新趋势[J].哈尔滨工业大学学报,2003,35(11):1281-1284. |
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| 作者姓名： | 薛月菊 王红 杨士元 邢建辉 邓雨春 |
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| 作者单位： | 清华大学自动化系,北京,100084 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助重大项目(90207016). |
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| 摘 要： | 与传统的门级测试生成方法相比，数字电路的层次化测试生成方法采用层次化模块的方式，利用不同抽象级的电路信息，包括结构信息和功能信息，有利于加速测试生成，提高故障覆盖率，分析和综述了几类主要的层次化测试生成算法：预先生成低层模块测试法、模块在约束下直接生成全局测试法、高层模块动态展开法、高层软件测试与低层门级结构测试结合法等，并讨论今后有待解决的主要问题。
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| 关 键 词： | 数字电路 层次化测试生成方法 微电子技术 集成电路设计 |
| 文章编号： | 0367-6234(2003)11-1281-04 |
| 修稿时间： | 2002年8月18日 |
New tendency of hierarchical test generation for digital circuit |
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| XUE Yue-ju,WANG Hong,YANG Shi-yuan,XING Jian-hui,DENG Yu-chun.New tendency of hierarchical test generation for digital circuit[J].Journal of Harbin Institute of Technology,2003,35(11):1281-1284. |
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| Authors: | XUE Yue-ju WANG Hong YANG Shi-yuan XING Jian-hui DENG Yu-chun |
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| Abstract: | ion levels; functional circuit information; structural circu |
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| Keywords: | hierarchical test generation circuit information at different |
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