| 应用于FPGA芯片的边界扫描电路 |
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| 引用本文： | 马晓骏,童家榕.应用于FPGA芯片的边界扫描电路[J].微电子学,2004,34(3):326-329,333. |
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| 作者姓名： | 马晓骏 童家榕 |
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| 作者单位： | 复旦大学,微电子系,专用集成电路国家重点实验室,上海,200433 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目(60076014)，教育部高等学校博士学科点专项科研基金资助项目(2000024623) |
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| 摘 要： | 针对在FPGA芯片中的应用特点，设计了一种边界扫描电路，应用于自行设计的FPGA新结构之中。该电路侧重于电路板级测试功能的实现，兼顾芯片功能的测试；同时，加入了器件编程功能。在电路设计中采用单触发器链寄存器技术，节省芯片面积。版图设计采用0．6μm标准CMOS工艺，并实际嵌入FPGA芯片中进行流片。该电路可实现测试、编程功能，并符合IEEE1149．1边界扫描标准的规定，测试结果达到设计要求。
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| 关 键 词： | 边界扫描 现场可编程门阵列 可测试性设计 器件编程 |
| 文章编号： | 1004-3365(2004)03-0326-04 |
A Boundary-Scan Test Circuit for FPGA's |
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| MA Xiao-jun,TONG Jia-rong,Shanghai ,P. R. China.A Boundary-Scan Test Circuit for FPGA''''s[J].Microelectronics,2004,34(3):326-329,333. |
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| Authors: | MA Xiao-jun TONG Jia-rong Shanghai P R China |
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| Affiliation: | MA Xiao-jun,TONG Jia-rong,Shanghai 200433,P. R. China) |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Boundary scan FPGA Design for testability Device programming |
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