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电子显微取向成像及其在单晶铜线材研究中的应用
引用本文:严文,陈建. 电子显微取向成像及其在单晶铜线材研究中的应用[J]. 西安工业大学学报, 2007, 27(2): 135-141,147
作者姓名:严文  陈建
作者单位:西安工业大学材料与化工学院 西安710032
摘    要:本文从基本原理、设备构造、角度和空间分辩率、试样制备方法以及数据处理等方面,系统地介绍了一种新的材料研究方法——电子显微取向成像.同时,结合在研课题的一些研究进展,针对变形前后单晶铜线材的组织演化,探讨了电子显微取向成像技术在微观组织、织构和晶体转动以及位错界面分析等中的应用,以展现电子显微取向成像的功能和应用.

关 键 词:电子显微取向成像  电子背散射衍射  形变组织  单晶铜线材
文章编号:1673-9965(2007)02-0135-07
收稿时间:2007-03-05
修稿时间:2007-03-05

Orientation Image Microscopy and Its Application in the Study of Single Crystal Copper Wires
YAN Wen,CHEN Jian. Orientation Image Microscopy and Its Application in the Study of Single Crystal Copper Wires[J]. Journal of Xi'an Institute of Technology, 2007, 27(2): 135-141,147
Authors:YAN Wen  CHEN Jian
Abstract:Orientation image microscopy is a new kind of method of analyzing the microstructure of relevant materials.In this paper,the fundamental principle,resolution,sample preparation and data treatment of orientation image microscopy are generally investigated.Besides,combined with what we have achieved in our research project,the application of orientation image microscopy to the microstructure,texture,crystal rotation and dislocation boundaries of single crystal copper wires with and without plastic deformation is also briefly analyzed.
Keywords:orientation image microscopy  electron back scattering diffraction  deformation microstructure  single crystal copper wires
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