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| 多芯片组件（MCM）测试策略的研究 | |
| 引用本文： | 梅德庆,周德俭.多芯片组件（MCM）测试策略的研究[J].机电工程,1997,14(6):226-227. |
| 作者姓名： | 梅德庆 周德俭 |
| 作者单位： | 浙江大学生产工程研究所!310027(梅德庆，陈子辰)，桂林电子工业学院!541004(周德俭) |
| 摘 要： | 本文对多芯片组件(MCM)的测试问题和测试要求作了分析和研究,并对当前常用的K—探针测试、阵列探针卡测试、电子束测试、内建自测试(BIST)和边界扫描测试等MCM测试方法进行了简单地介绍和比较,在此基础上,作者提出了一种基于多芯片组件的测试策略. |
| 关 键 词： | 多芯片组件 测试要求 测试方法 测试策略 |
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