首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

PCB走线检测的预处理算法
引用本文:李志敏,林越伟,黄俊,张凤阳,万睿,张晶,黄凡.PCB走线检测的预处理算法[J].光学精密工程,2007,15(2):272-276.
作者姓名:李志敏  林越伟  黄俊  张凤阳  万睿  张晶  黄凡
作者单位:重庆大学,光电技术及系统教育部重点实验室,重庆,400044;重庆大学,光电技术及系统教育部重点实验室,重庆,400044;重庆大学,光电技术及系统教育部重点实验室,重庆,400044;重庆大学,光电技术及系统教育部重点实验室,重庆,400044;重庆大学,光电技术及系统教育部重点实验室,重庆,400044;重庆大学,光电技术及系统教育部重点实验室,重庆,400044;重庆大学,光电技术及系统教育部重点实验室,重庆,400044
摘    要:介绍了一种PCB待测图像预处理算法,它包括对待测图像的去噪和二值化分割两个部分。该方法使用Harr小波对待测图像的灰度直方图进行平滑处理来消除其中的"伪谷值点",再充分利用标准图像的先验信息来确定一个二值化分割阈值的大致范围,最后在这个范围内找到直方图的谷值,这即是所需的阈值。实验表明,该预处理算法能够得到一个满意的图像二值化阈值,处理后的待测图像目标边界清晰,很好地保留了所有走线缺陷,同时消除了大部分可能影响后续匹配的噪声,处理时间也较短,可以达到实时检测的要求。

关 键 词:预处理  小波变换  先验信息  二值化阈值
文章编号:1004-924X(2007)02-0272-05
收稿时间:2006-06-12
修稿时间:2006-06-12

Preprocess algorithm of PCB line detection
LI Zhi-min,LIN Yue-wei,HUANG Jun,ZHANG Feng-yang,WAN Rui,ZHANG Jing,HUANG Fan.Preprocess algorithm of PCB line detection[J].Optics and Precision Engineering,2007,15(2):272-276.
Authors:LI Zhi-min  LIN Yue-wei  HUANG Jun  ZHANG Feng-yang  WAN Rui  ZHANG Jing  HUANG Fan
Affiliation:Key Laboratory of Optoelectronic Technology and Systems, Ministry of Education, Chongqing University, Chongqing 400044, China
Abstract:A preprocess algorithm consisting of denoising and binarization for PCB test image is proposed.The algorithm smooths the gray histogram of the test image with Harr wavelet to remove the "pseudo valley",and fixes a range of the threshold according to the prior information in the standard image,and then finds out the valley of the histogram in the range and that is the threshold.The experimental results show that the preprocess algorithm is able to obtain a satisfactory threshold for the binarization of the test image.After the preprocess,the objects in the binarized test image have clear boundaries and all the defects are preserved,while the noise which could influence on subsequent processes has been almost removed.In addition,the process speed has met the requirement of the real-time inspection.
Keywords:preprocess  wavelet transformation  prior information  threshold
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
点击此处可从《光学精密工程》浏览原始摘要信息
点击此处可从《光学精密工程》下载全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号