|
|||||
|
|
| SJ／T 11394—2009《半导体发光二极管测试方法》概要 | |
| 作者单位： | |
| 摘 要： | 本标准代替SJ/T 2355.1～2355.7-1983<半导体发光器件测试方法>系列标准.范围本标准规定了半导体发光二极管(以下简称器件)的辐射度学、光度学、色度学、电学、热学参数以及电磁兼容性的测试方法,适用于可见光、白光半导体发光二极管.紫外发射二极管、红外发射二极管、半导体发光组件和芯片的测试可参考执行. |
| 关 键 词： | 半导体发光器件 测试方法 发光二极管 标准 |
Measure Methods of Semiconductor Light Emitting Diodes |
|
| Abstract: | |
| Keywords: | |
| 本文献已被 维普 万方数据 等数据库收录！ | |