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得可将在JPCA2008展示最新封装技术
作者单位:《电子与封装》通讯员
摘    要:得可已确认参展JPCA2008并通过一系列的领先产品展示其高精度的批量印刷技术。将于6月11日至6月13日在东京有明举行的展会,将见证此批量印刷引领者盛邀到访者通过其全新PhotonVi印刷平台和各种生产力工具的很多制造方案期待更多。

关 键 词:封装技术  印刷技术  生产力工具  产品展示  制造方案  高精度
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