首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

O2压对脉冲激光沉积ZnO薄膜性能的影响
引用本文:滕晓云,刘彩池,郝秋艳,张丽,许贺菊,于威.O2压对脉冲激光沉积ZnO薄膜性能的影响[J].光电子.激光,2007,18(9):1058-1060.
作者姓名:滕晓云  刘彩池  郝秋艳  张丽  许贺菊  于威
作者单位:河北工业大学材料学院,天津,300130;河北大学物理科学与技术学院,河北,保定,071002;河北工业大学材料学院,天津,300130;河北大学物理科学与技术学院,河北,保定,071002
摘    要:采用脉冲激光沉积(PLD)法在Al2O3(0002)衬底上制备了具有高c轴择优取向的ZnO薄膜.用X射线衍射(XRD)、原子力显微镜(AFM)、霍尔电导测量和透射光谱等表征技术研究了工作O2压对ZnO薄膜的结晶特性、电学和光学性能的影响.研究结果显示:在133×10-1~266×10-2 Pa内,ZnO薄膜的晶粒尺度随工作O2压的增加而增加,晶体结构趋于完整,表面更加平整;当工作O2压为266×10-1 Pa时,ZnO薄膜的表面粗糙度有所增加,薄膜的结晶质量恶化;工作O2压的不同导致ZnO薄膜的电学、光学特性的变化.

关 键 词:ZnO薄膜  O2压  脉冲激光沉积(PLD)
文章编号:1005-0086(2007)09-1058-03
收稿时间:2006/11/7 0:00:00
修稿时间:2006-11-072007-03-06

Influences of Oxygen Pressure on the Properties for ZnO Films Deposited by Pulsed Laser Deposition
TENG Xiao-yun,LIU Cai-chi,HAO Qiu-yan,ZHANG Li,XU He-ju,YU Wei.Influences of Oxygen Pressure on the Properties for ZnO Films Deposited by Pulsed Laser Deposition[J].Journal of Optoelectronics·laser,2007,18(9):1058-1060.
Authors:TENG Xiao-yun  LIU Cai-chi  HAO Qiu-yan  ZHANG Li  XU He-ju  YU Wei
Affiliation:1. School of Material Science and Engineering, Hehei University of Technology, Tianjin 300130, China; 2. College of Physics Science and Technology, Hebei University, Baoding 071002,China
Abstract:
Keywords:ZnO films  oxygen pressure  pulsed laser deposition
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
点击此处可从《光电子.激光》浏览原始摘要信息
点击此处可从《光电子.激光》下载全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号