| 横向点间耦合对双量子点Aharonov-Bohm结构输运性质的影响 |
| |
| 引用本文： | 江兆潭,刘伟,杨富华,游建强,李树深,郑厚植. 横向点间耦合对双量子点Aharonov-Bohm结构输运性质的影响[J]. 半导体学报, 2003, 24(Z1) |
| |
| 作者姓名： | 江兆潭 刘伟 杨富华 游建强 李树深 郑厚植 |
| |
| 作者单位： | 中国科学院半导体研究所,超晶格与微结构国家重点实验室,北京,100083 |
| |
| 摘 要： | 文中所研究的结构Aharonov-Bohm(AB)是由两个耦合的量子点和与它们相耦合的源和漏组成,利用修正速率方程研究了横向点间耦合对AB结构输运性质的影响.结果表明:点间耦合将引起电子占据几率在系统初始阶段的瞬时性振荡,而从源流向漏的电流单调地衰减到一个稳定值.点间耦合把AB环分成两个相互耦合的子环,这将破坏通常以2π为周期的AB振荡,产生一种新的复杂的振荡,其周期随着通过两个子环的磁通比的变化而变化.
|
| 关 键 词： | 量子点 AB效应 点间耦合 |
Influence of Transverse Interdot Coupling on Electron Transport Properties in a Double-Quantum-Dot Aharonov-Bohm Structure |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | |
| 本文献已被 万方数据 等数据库收录！ |
|
