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RF-MBE生长AlN/GaN超晶格结构二维电子气材料
引用本文:胡国新,王晓亮,孙殿照,王军喜,刘宏新,刘成海,曾一平,李晋闽,林兰英.RF-MBE生长AlN/GaN超晶格结构二维电子气材料[J].半导体学报,2003,24(6).
作者姓名:胡国新  王晓亮  孙殿照  王军喜  刘宏新  刘成海  曾一平  李晋闽  林兰英
作者单位:中国科学院半导体研究所,材料中心,北京,100083
基金项目:国家自然科学基金,国家重点基础研究发展计划(973计划)
摘    要:用射频等离子体辅助分子束外延技术(RF-MBE)在c面蓝宝石衬底上外延了高质量的GaN膜以及AlN/GaN超晶格结构极化感应二维电子气材料.所获得的掺Si的GaN膜室温电子浓度为2.2×1018cm-3,相应的电子迁移率为221cm2/(V*s);1μm厚的GaN外延膜的(0002)X射线衍射摇摆曲线半高宽(FWHM)为7′;极化感应产生的二维电子气室温电子迁移率达到1086cm2/(V*s),相应的二维电子气面密度为7.5×1012cm-2.

关 键 词:RF-MBE  二维电子气  HFET  AlGaN/GaN

Two-Dimensional Electron Gas Materials with AlN/GaN Superlattice Structure Grown by Radio-Frequency Plasma-Assisted Molecular Beam Epitaxy
Abstract:
Keywords:
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