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肖特基栅共振隧穿三极管(SGRTT)的器件模拟
引用本文:宋瑞良,毛陆虹,郭维廉,梁惠来,张世林. 肖特基栅共振隧穿三极管(SGRTT)的器件模拟[J]. 固体电子学研究与进展, 2006, 26(3): 290-294
作者姓名:宋瑞良  毛陆虹  郭维廉  梁惠来  张世林
作者单位:天津大学电子信息工程学院,天津,300072;天津大学电子信息工程学院,天津,300072;天津大学电子信息工程学院,天津,300072;天津大学电子信息工程学院,天津,300072;天津大学电子信息工程学院,天津,300072
基金项目:国家重点基础研究发展计划(973计划) , 国家重点实验室基金
摘    要:使用Atlas软件模拟了肖特基栅共振隧穿三极管。通过改变发射极长度、栅极金属和上层AlAs势垒的距离以及靠近AlAs势垒的GaAs层浓度,得到器件耗尽区边界以及所对应的I-V特性,由此分析和解释了器件结构参数对器件特性的影响,最后对器件在电路中的应用予以说明。

关 键 词:肖特基栅共振隧穿三极管  器件模拟  单稳-双稳转换逻辑电路单元
文章编号:1000-3819(2006)03-290-05
收稿时间:2005-03-21
修稿时间:2005-05-23

The Device Simulation of Schottky Gate Resonant Tunneling Transistor
SONG Ruiliang,MAO Luhong,GUO Weilian,LIANG Huilai,ZHANG Shilin. The Device Simulation of Schottky Gate Resonant Tunneling Transistor[J]. Research & Progress of Solid State Electronics, 2006, 26(3): 290-294
Authors:SONG Ruiliang  MAO Luhong  GUO Weilian  LIANG Huilai  ZHANG Shilin
Affiliation:School of Electronic Information Eng. , Tianjin Uni. , Tianjin , 300072,CHN
Abstract:In this paper,Schottky gate resonant tunneling transistor has been simulated with Atlas software.By varying the length of the emitter,the distance between gate metal and the upper AlAs barrier and the doping concentration of GaAs near the AlAs barrier,we obtain the different I-V characteristics and depletion edge profiles of the device.Then,we analyze and explain the influence of structure parameters on the device characteristic.At the end of the paper,its application in the circuit is also described.
Keywords:Schottky gate resonant tunneling transistor   device simulation   monostablebistable transition logic elements
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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