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| 利用普通仪表检测可控硅装置 | |
| 引用本文： | 徐剑.利用普通仪表检测可控硅装置[J].石油工程建设,1989,15(5):48-49. |
| 作者姓名： | 徐剑 |
| 作者单位： | 中石化总公司第三建设公司 |
| 摘 要： | 可控硅元件已较普遍地进入强电领域,在石油电气安装工程中最常见的可控硅装置,通常用在调压电路或整流电路等方面。利用可控硅调压,要求其输出电压波形基本对称,如果输出电压正负半波不对称,感性负载中将出现直流分量,由于感性负载对直流分量感抗很小,故直流分量越大,负载中流过的直流电流也越大,这对设备的安全运行是不利的;在用可控硅进行整流的装置中,对可控硅三相导通的对称性也有比较严格的要求,一旦三相导通对称性遭到破坏,将引起负荷分配的不均匀,同样也会使设备工作不正常,甚至损坏可控硅元件。检查可控硅装置,在安装试运初期,通常由专业人员利用示波器,根据显示波形的正 |
| 关 键 词： | 普通仪表 可控硅装置 检测 |
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