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基于DDS的频率特性测试仪
引用本文:操长茂. 基于DDS的频率特性测试仪[J]. 半导体技术, 2003, 28(12): 44-46
作者姓名:操长茂
作者单位:江汉大学物理与信息工程学院,湖北,武汉,430056
摘    要:介绍了基于DDS设计的频率特性测试仪,整个系统以单片机为控制核心,实现了对被测网络频率特性的测量,用液晶显示器LCD显示幅频特性和相频特性曲线,同时还可打印频响曲线。

关 键 词:幅频特性  相频特性  单片机  DDS
文章编号:1003-353X(2003)12-0044-03

A tester for frequency response characteristic based on DDS
CAO Chang-mao. A tester for frequency response characteristic based on DDS[J]. Semiconductor Technology, 2003, 28(12): 44-46
Authors:CAO Chang-mao
Abstract:The tester for frequency response characteristic based on DDS is introduced, it usesmicro controller as the key device, displaying amplitude and phase frequency characteristic curveswith LCD and printing them .
Keywords:amplitude frequency characteristic  phase frequency characteristic  micro controller  DDS
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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