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微纳结构ZnO荧光薄膜的电沉积及其物理特性研究
引用本文:王爱华,张兵临,秦玉华,高知丰,周秋霞,姚宁.微纳结构ZnO荧光薄膜的电沉积及其物理特性研究[J].材料导报,2008,22(10).
作者姓名:王爱华  张兵临  秦玉华  高知丰  周秋霞  姚宁
作者单位:郑州大学物理工程学院材料物理重点实验室,郑州,450052
基金项目:教育部科学技术研究项目
摘    要:采用阴极电沉积法,以Zn(NO3)2水溶液为电解液,在透明导电玻璃ITO衬底上制备了ZnO薄膜,用X射线衍射仪(XRD)和扫描电子显微镜(SEM)分析了ZnO薄膜的微纳结构和表面形貌.用Fluoromax-P型荧光光谱仪测量了样品的室温光致发光光谱,观察到550hm处的黄绿光发射峰,认为与样品中由导带到氧填隙引起的浅受主能级的电子跃迁有关.对样品进行500℃真空退火,研究了退火前后薄膜的结构及导电性能的变化.结果表明,退火处理使薄膜的均匀性和结晶质量得到改善,导电性明显增强.此外,还观察了薄膜的阴极射线发光.

关 键 词:电沉积  ZnO薄膜  退火处理  光致发光光谱

Electrodeposition and Physical Property Research of Micron-nanostructure Zinc Oxide Phosphor Films
WANG Aihua,ZHANG Binglin,QIN Yuhua,GAO Zhifeng,ZHOU Qiuxia,YAO Ning.Electrodeposition and Physical Property Research of Micron-nanostructure Zinc Oxide Phosphor Films[J].Materials Review,2008,22(10).
Authors:WANG Aihua  ZHANG Binglin  QIN Yuhua  GAO Zhifeng  ZHOU Qiuxia  YAO Ning
Abstract:
Keywords:
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