| 在基于LFSR重播种的压缩环境下同时降低测试数据量和测试功耗 |
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| 引用本文： | 王伟征,邝继顺,尤志强,刘鹏.在基于LFSR重播种的压缩环境下同时降低测试数据量和测试功耗[J].半导体学报,2011,32(7):075009-7. |
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| 作者姓名： | 王伟征 邝继顺 尤志强 刘鹏 |
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| 作者单位： | 湖南大学,湖南大学 信息科学与工程学院,湖南大学 信息科学与工程学院,湖南大学 信息科学与工程学院 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金No. 60673085, 60773207. |
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| 摘 要： | 集成电路测试中过高的测试功耗和日益增长的测试数据量是半导体工业面临的两大问题。本文提出了一种在基于线性反馈移位寄存器重播种的压缩环境下基于扫描块的测试向量编码方案。同时，本文也介绍了一种新颖的扫描块重聚类算法。本文的主要贡献是给出了一种灵活的测试应用框架，它能够极大地减少扫描移位期间的跳变个数和经由LFSR重播种生成的确定位的数目。因此，文中方案能够极大地降低测试功耗和测试数据量。在ISCAS’89基准电路上使用Mintest测试集进行的实验表明，本文方法能够减少72%-94%的跳变，并且能获得高达74%-94%的测试压缩率。
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| 关 键 词： | 测试计划 环境扫描 LFSR 数据量 压缩 播种 线性反馈移位寄存器 功率 |
| 修稿时间： | 3/5/2011 10:15:48 PM |
Reducing test-data volume and test-power simultaneously in LFSR reseeding-based compression environment |
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| Wang Weizheng,Kuang Jishun,You Zhiqiang and Liu Peng.Reducing test-data volume and test-power simultaneously in LFSR reseeding-based compression environment[J].Chinese Journal of Semiconductors,2011,32(7):075009-7. |
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| Authors: | Wang Weizheng Kuang Jishun You Zhiqiang and Liu Peng |
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| Affiliation: | College of Information Science & Engineering,School of Information Science & Engineering, Hunan University,Software School, Hunan University,School of Information Science & Engineering, Hunan University |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Built-in self-test (BIST) LFSR Reseeding test power test compression scan block |
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