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| 基于LPC2136的精确温度测量 | |
| 引用本文： | 谢湘南,马冰,田书林. 基于LPC2136的精确温度测量[J]. 中国测试技术, 2008, 34(6) |
| 作者姓名： | 谢湘南 马冰 田书林 |
| 作者单位： | 1. 电子科技大学自动化工程学院,四川,成都,610054;中国测试技术研究院,四川,成都,610021 2. 中国测试技术研究院,四川,成都,610021 3. 电子科技大学自动化工程学院,四川,成都,610054 |
| 摘 要： | 针对LPC2136片内ADC的分辨率较低，不能满足测量精度的需要，而外接高分辨率的ADC成本又较高的情况，提出了采用过采样和求均值的方法增加LPC2136片内ADC的分辨率。基于过采样技术提高模数转换器ADC转换分辨率的基本原理及电路模型，给出了一个应用过采样技术增加LPC2136片内模数转换器ADC的分辨率转换结果的实现示例及其软件实现方法，并进行了温度实测实验，结果表明测量分辨率明显提高，能满足测量精度的需要。 |
| 关 键 词： | 过采样 求均值 ADC转换器 LPC2136芯片 分辨率 温度测量 |
Accurate temperature measurement based on LPC2136 |
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| XIE Xiang-nan,MA Bing,TIAN Shu-lin. Accurate temperature measurement based on LPC2136[J]. China Measurement Technology, 2008, 34(6) | |
| Authors: | XIE Xiang-nan MA Bing TIAN Shu-lin |
| Affiliation: | XIE Xiang-nan1,2,MA Bing2,TIAN Shu-lin1(1.School of Automation Engineering,University of Electronic Science , Technology,Chengdu 610054,China,2.National Institute of Measurement , Testing Technology,Chengdu 610021,China) |
| Abstract: | |
| Keywords: | Oversampling Average ADC LPC2136 Resolution Temperature measurement |
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