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半导体网络的可靠性
作者姓名:J.Adams  W.Workman  林发永
摘    要:本文讨论半导体网络微型电子器件可靠性的试验方案和试验结果。试验方案中包括:可靠性试验、寿命试验、阶跃应力试验以及环境试验。讨论了失效分析及改正措施。

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