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红外偏振探测的机理
引用本文:刘必鎏,时家明,赵大鹏,许波.红外偏振探测的机理[J].红外与激光工程,2008,37(5).
作者姓名:刘必鎏  时家明  赵大鹏  许波
作者单位:电子工程学院,安徽省红外与低温等离子体重点实验室,安徽,合肥,230037
基金项目:教育部跨世纪优秀人才培养计划,安徽省红外与低温等离子体重点实验室基金
摘    要:偏振探测技术已经成为一种重要的探测手段,其机理研究对红外偏振探测的实际应用和结果分析具有重要的理论指导意义.综述了偏振产生的机理,如反射、热辐射和散射,分析了物体的表面特性如粗糙度、色泽和电导率等对光的偏振特性的影响,并借助多人的实验加以辅证.发现当入射角等于布儒斯特角时,反射光的线偏振度达到最大值;多次散射使光的偏振方向不断偏转,经统计平均后降低了反射或散射光的偏振度;亮的粗糙表面的反射光以多次反射为主,表现出较小的线偏振度;通过检测反射光偏振角的相位差可以确定目标是金属还是绝缘体.

关 键 词:偏振  偏振探测  机理  表面特性

Mechanism if infrared polarization detection
LIU Bi-liu,SHI Jia-ming,ZHAO Da-peng,XU Bo.Mechanism if infrared polarization detection[J].Infrared and Laser Engineering,2008,37(5).
Authors:LIU Bi-liu  SHI Jia-ming  ZHAO Da-peng  XU Bo
Abstract:
Keywords:
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