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| 1983年测试仪器设计和性能指标发展的趋向(二) | |
| 引用本文： | 汪铁华.1983年测试仪器设计和性能指标发展的趋向(二)[J].中国仪器仪表,1984(5). |
| 作者姓名： | 汪铁华 |
| 摘 要： | 时间频率仪器在电子学测量中仍然十分重要的时间频率仪器正向着更高的速度发展。HP公司的HP5384A、HP5385A计数器提供10mV的输入灵敏度,12位液晶字母数字显示,闸门时间为0.1、1.0、10秒可选择。HP5385人时基的误差在0～40℃范围内小于1 ppm,老化速率低于0.1ppm/月。两种计数器都可与IEEE488母线兼容,用户也可选用HP-IL接口回路。另一个IEEE488可编 |
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