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基于加权SSIM算法的PCB元件缺陷检测
引用本文:乔羽,沈精虎,于腾,安帅,孙恺.基于加权SSIM算法的PCB元件缺陷检测[J].制造业自动化,2019(4):10-14.
作者姓名:乔羽  沈精虎  于腾  安帅  孙恺
作者单位:青岛大学机电工程学院;青岛大学电子信息学院
摘    要:提出了一种自动光学检测方法,通过将传统的SSIM算法与元件的权重相结合的方法来检测PCB元件缺陷。该方法基于图像内容生成权重图,与SSIM矩阵相乘,它可以有效地增强平滑区域信息并消除高频区域的干扰。该系统不需要严格照明条件,对相机性能要求不高。实验结果表明,该方法在PCB缺陷检测精度方面,特别是对位置变化较大的插件元件的检测优于传统的SSIM方法。将有助于开发低成本和自动化的缺陷检测系统。

关 键 词:PCB  自动光学检测  加权SSIM  插件元件

PCB component defects detection using weighted SSIM
QIAO Yu,SHEN Jing-hu,YU Teng,AN Shuai,SUN Kai.PCB component defects detection using weighted SSIM[J].Manufacturing Automation,2019(4):10-14.
Authors:QIAO Yu  SHEN Jing-hu  YU Teng  AN Shuai  SUN Kai
Abstract:QIAO Yu;SHEN Jing-hu;YU Teng;AN Shuai;SUN Kai
Keywords:
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