|
|||||
|
|
| 利用高光谱图像技术检测梨表面碰压伤的试验研究 | |
| 引用本文： | 薛龙,黎静,刘木华.利用高光谱图像技术检测梨表面碰压伤的试验研究[J].粮油加工,2009(4):136-139. |
| 作者姓名： | 薛龙 黎静 刘木华 |
| 作者单位： | 江西农业大学工学院 |
| 摘 要： | 以梨为研究对象,初步探讨了应用高光谱图像技术检测梨表面碰压伤的方法。采集梨在400～1 000nm范围的高光谱图像,应用主成分分析方法（PCA）获得主成分图像,根据第三主成分图像（PC-3）中各波长的权重,选出特征波长,分别是572nm、696nm和945nm。经过适当的图像处理方法对梨表面的碰压伤进行检测。检测结果表明,高光谱技术对检测梨表面碰压伤效果非常明显。 |
| 关 键 词： | 高光谱图像 无损检测 碰压伤 |
The Study on Detecting Pear's Bruises by Using Hyperspectral Imaging |
|
| Abstract: | |
| Keywords: | |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ | |