| 数字专用集成电路成测系统设计 |
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| 引用本文： | 张瑜,祖静,裴东兴. 数字专用集成电路成测系统设计[J]. 仪器仪表学报, 2006, 27(Z2): 1519-1520 |
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| 作者姓名： | 张瑜 祖静 裴东兴 |
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| 作者单位： | 仪器科学与动态测试教育部重点实验室中北大学,太原,030051 |
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| 摘 要： | 由于专用集成电路具有用途广泛、功能特殊、内部电路复杂的特点,因此很难用通用的测试方法全面检测其静、动态参数.针对这一问题,并根据数字专用集成电路芯片H勘202的成测需要,设计了一套专用检测系统,介绍了系统的硬件设计和软件设计过程.
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| 关 键 词： | 专用集成电路 测试系统 成品测试 |
Design of digital ASIC testing system |
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| Zhang Yu,Zu Jing,Pei Dongxing. Design of digital ASIC testing system[J]. Chinese Journal of Scientific Instrument, 2006, 27(Z2): 1519-1520 |
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| Authors: | Zhang Yu Zu Jing Pei Dongxing |
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