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| RFIC自动测试方案设计 | |
| 引用本文： | 吴正平,贡树青,于清清,吴功臣,张伟伟.RFIC自动测试方案设计[J].微型机与应用,2012,31(22). |
| 作者姓名： | 吴正平 贡树青 于清清 吴功臣 张伟伟 |
| 作者单位： | 南京三江学院电子信息工程学院,江苏南京,210012 |
| 摘 要： | 为解决射频芯片设计企业对射频芯片自能测试的要求，在比较分析了国内外射频自动测试方案和标准的基础上，提出了基于LabVIEW的GUI风格软件平台，通过GPIB总线接口与测试仪器进行通信、控制和数据采集的射频芯片自动测试方案。以上位机软件为核心，通过虚拟仪器技术控制各测试仪器进行协调工作，完成芯片的参数设置、数据采集和报表分析等工作，本套系统完全实现了射频芯片测试的自动化，节省了大量的测试时间。 |
| 关 键 词： | 射频系统 LabVIEW 自动化 |
Automatic test program design of the RF IC |
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| Abstract: | |
| Keywords: | RF system LabVIEW automation |
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