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台面型InGaAs探测器暗电流及低频噪声研究
引用本文:李淘. 台面型InGaAs探测器暗电流及低频噪声研究[J]. 光电子.激光, 2010, 0(4): 500-503
作者姓名:李淘
作者单位:中国科学院上海技术物理研究所;传感技术国家重点实验室;中国科学院红外成像材料与器件重点实验室;中国科学院研究生院;
基金项目:国家自然科学基金重点资助项目(50632060); 中国科学院知识创新工程青年人才领域前沿资助项目(C2-32)
摘    要:制备了一系列不同面积的台面型InGaAs红外探测器,通过周长面积比(P/A)的变化分析了器件的暗电流机制及低频噪声性能。结果表明,在现有的材料和工艺水平下,台面边缘和体内的产生复合电流都在总暗电流中占了较大部分。对测试结构器件的低频噪声测量表明,在反偏下,器件表现出明显的1/f噪声;由于边缘产生复合电流对小尺寸器件的影响大,其产生的噪声使得器件总噪声变大。这些结果表明,以后的工艺改进应注重减少边缘电流和体内产生复合电流。

关 键 词:红外探测器  InGaAs  暗电流  噪声

Investigation on dark current and low frequency noise of mesa type InGaAs infrared detector
LI Tao. Investigation on dark current and low frequency noise of mesa type InGaAs infrared detector[J]. Journal of Optoelectronics·laser, 2010, 0(4): 500-503
Authors:LI Tao
Affiliation:LI Tao1,2,WANG yang1,LI Yong-fu1,TANG Heng-jing1,LI Xue1,GONG Hai-mei1**(1.State Key Laboratories of Transducer Technology,Shanghai Institute of Technical Physics,Key Laboratories of Infrared Imaging Materials , Detectors,Chinese Academy of Sciences,Shanghai 200083,China,2.Graduate School of the Chinese Academy of Sciences,Beijing 100039,China)
Abstract:We fabricate a series of mesa type InGaAs infrared detectors with different areas.We use perimeter-to-area analysis to investigate the dark current mechanism and low frequency noise characteristic of these detectors.In these detectors the generation-recombination(g-r) currents that are related to mesa edge and the bulk dominate the total dark current.The results of the noise measurement show that,at low frequencies the detectors are 1/f noise dominated.The total noise becomes larger with the increasing edge...
Keywords:infrared detector  InGaAs  dark current  noise  
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