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| 基于T861测试系统的皮安级漏电流测试方法 | |
| 作者姓名： | 韩先虎 张凯虹 王建超 郭晓宇 |
| 作者单位： | 中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏无锡,214035;中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏无锡,214035;中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏无锡,214035;中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏无锡,214035 |
| 摘 要： | |
| 关 键 词： | 模拟开关 I-V转换 T861 漏电流 ADG436 |
| 本文献已被 万方数据 等数据库收录！ | |
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