| 基于边界扫描技术的嵌入式处理器测试方法研究 |
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| 引用本文： | 王让定,杜呈透,叶富乐. 基于边界扫描技术的嵌入式处理器测试方法研究[J]. 计算机工程与应用, 2003, 39(7): 111-113,152 |
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| 作者姓名： | 王让定 杜呈透 叶富乐 |
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| 作者单位： | 宁波大学信息科学与工程学院,宁波,315211 |
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| 摘 要： | 现代先进微处理器有非常高的集成度和复杂度,而且芯片管脚数相对较少,必须要有一定的自测试设计和其它的可测试性设计来简化测试代码,提高故障覆盖率。该文提出了嵌入式处理器80386EX芯片内部功能的测试方案,设计了符合JTAG规范的测试系统结构,实现了芯片的内部功能部件的测试。接着,通过实验证明了文章所提方法的可行性。最后讨论了下一步的研究工作。
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| 关 键 词： | 边界扫描 80386EX 测试 |
| 文章编号： | 1002-8331-(2003)07-0111-03 |
The Test Method Research Based on Boundary-scan Technique for Embedded Microprocessor |
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| Wang Rangding Du Chengtou Ye Fule. The Test Method Research Based on Boundary-scan Technique for Embedded Microprocessor[J]. Computer Engineering and Applications, 2003, 39(7): 111-113,152 |
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| Authors: | Wang Rangding Du Chengtou Ye Fule |
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| Abstract: | This paper presents test method of inside functions for Intel80386microprocessor,and designs test system architecture based on boundary-scan technique,and implements inside function unit's test.The experiment's results testfy feasibility of this test method. |
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| Keywords: | Boundary-scan 80386EX Test |
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