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| 使用诊断与DFM提高可制造性 | |
| 作者姓名： | Tom Jackson Anis Uzzaman |
| 作者单位： | Cadence设计系统公司 |
| 摘 要： | 本文将说明批量诊断结果与DFM热点相关联如何成为一种高效率的手段,以找到设计中的"问题区域",为制造与设计团队提供通行令让他们可以减少系统性瑕疵. |
| 关 键 词： | 诊断预报 扫描链 精确诊断 单元类型 系统性 故障集 故障分析 系统故障 瑕疵 故障模型 |
The Eclipse open-development platform |
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| Tom Jackson,Anis Uzzaman.The Eclipse open-development platform[J].Electronic Products China,2009(2). | |
| Authors: | Tom Jackson Anis Uzzaman |
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