| 改进的大规模集成电路测试方法 |
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| 引用本文： | 李春伟,何振中,陈新武. 改进的大规模集成电路测试方法[J]. 太赫兹科学与电子信息学报, 2007, 5(4): 308-312 |
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| 作者姓名： | 李春伟 何振中 陈新武 |
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| 作者单位： | 1. 宁夏大学,物理电气信息学院,宁夏,银川,750021
2. 华中科技大学,多谱信息处理技术国防重点实验室,湖北,武汉,430074 |
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| 摘 要： | 为了提高大规模集成电路可测性设计（Design For Test,DFT）的故障覆盖率,减少测试时间,通过分析自我测试（Self-Testing Using MISR and Parallel SRSG,STUMPS）方法中的测试机制,找出了其测试效果不理想的原因,提出了改进型的大规模集成电路的测试方法,用C语言编写了故障模拟程序,并且在ISCAS’85标准测试电路上进行了验证。
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| 关 键 词： | 可测性设计 内建自测试 每时钟测试 测试向量压缩 |
| 文章编号： | 1672-2892（2007）04-0308-05 |
| 修稿时间： | 2007-01-042007-03-19 |
An Improved Method for Testing Large Scale Integrated Circuit |
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| LI Chun-wei,HE Zhen-zhong,CHEN Xin-wu. An Improved Method for Testing Large Scale Integrated Circuit[J]. Journal of Terahertz Science and Electronic Information Technology, 2007, 5(4): 308-312 |
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| Authors: | LI Chun-wei HE Zhen-zhong CHEN Xin-wu |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | DFT Built-in Self Test test-per-clock test pattern compression |
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