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| 电子元器件内部水汽含量与密封性关系的研究 | |
| 作者姓名： | 王庚林 王莉研 董立军 |
| 作者单位： | 北京市科通电子继电器总厂,北京100054 |
| 基金项目： | 本文作者的研究得到了毕克允、张德胜、郑鹏洲、吴孝俭等专家和科通厂赵钢、屈建江、刘瑞生等同志的支持,在此一并表示感谢! |
| 摘 要： | 通过对密封性氦质谱细检漏漏率公式和内部水汽含量公式的推演，并通过典型实例对电子元器件内部水汽含量公式进行了验证，同时对国内外军用标准漏率判据的计算标准进行了改进分析，研究发现：现行的中国和美国密封性军用标准的漏率判据普遍保证不了几个月或更长贮存和使用时间的内部水汽含量要求，这必将危及密封电子元器件的可靠性，所以建议进一步开展研究，并修改有关密封性氦质谱细检漏的中国国家军用标准。 |
| 关 键 词： | 氦质谱细检漏 漏率判据 内部水汽含量 可靠性 修改军用标准 |
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