| 利用数据采集卡实现快速XAFS |
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| 引用本文： | 刘涛,薛超,谢亚宁,胡天斗,张静,吴自玉.利用数据采集卡实现快速XAFS[J].核技术,2004,27(12):885-889. |
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| 作者姓名： | 刘涛 薛超 谢亚宁 胡天斗 张静 吴自玉 |
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| 作者单位： | 中国科学院高能物理研究所同步辐射室,北京,100049;中国科学院高能物理研究所同步辐射室,北京,100049;中国科学院高能物理研究所同步辐射室,北京,100049;中国科学院高能物理研究所同步辐射室,北京,100049;中国科学院高能物理研究所同步辐射室,北京,100049;中国科学院高能物理研究所同步辐射室,北京,100049 |
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| 基金项目： | 中国科学院高能物理研究所知识创新工程资金(U-515-10)和国家自然科学基金(10475095)资助 |
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| 摘 要： | 在北京同步辐射实验室的1W1BXAFS实验站上利用工业控制中的数据采集技术建立了快速扫描XAFS实验方法。探讨了实验方法与各种实验参数：如单色器移动速率、采样次数、设备通信方式等的制约关系，以及获得最佳实验条件的途径。新方法可在数十秒的时间尺度内得到扩展X射线吸收精细谱，近边谱的时间可以更短，从而有可能应用于一些与时间过程有关的原位实验中。作为一个应用实例，用快速扫描X射线吸收精细结构谱(QXAFS)测量了非晶硒在快速加热过程中的结构变化。
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| 关 键 词： | 同步辐射 快速扫描X射线吸收精细结构谱 原位 数据采集 |
Feasibility of QXAFS using a data acquisition board |
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