| 基于基本门单元完全测试集的测试生成算法研究 |
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| 引用本文： | 张帆,姚曜,孔巧.基于基本门单元完全测试集的测试生成算法研究[J].微计算机信息,2010(2). |
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| 作者姓名： | 张帆 姚曜 孔巧 |
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| 作者单位： | 海军装备研究院;装备指挥技术学院; |
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| 摘 要： | 充分地利用电路的结构信息,提出一种应用基本门单元完全测试集的测试生成算法,并给出了一些应用实例,表明了算法的可行性。
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| 关 键 词： | 测试向量 故障 结构信息 |
The test generation algorithm based entirety test volume for basic gate cell |
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| ZHANG Fan YAO Yao KONG Qiao.The test generation algorithm based entirety test volume for basic gate cell[J].Control & Automation,2010(2). |
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| Authors: | ZHANG Fan YAO Yao KONG Qiao |
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| Affiliation: | ZHANG Fan YAO Yao KONG Qiao(Navy Armament Academy,100161,China)(Academy of Equipment Comm, , Technology,101416,China) |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Test vector fault frame information |
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