| 用能量色散X荧光法测定磁盘磁层厚度 |
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| 引用本文： | 王裕政,林金锌,江立人,顾连学. 用能量色散X荧光法测定磁盘磁层厚度[J]. 核技术, 1986, 0(9) |
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| 作者姓名： | 王裕政 林金锌 江立人 顾连学 |
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| 作者单位： | 中国科学院上海原子核研究所(王裕政，林金锌，江立人)，中国科学院上海原子核研究所(顾连学) |
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| 摘 要： | 用放射源~(238)Pu激发磁盘磁层中铁的特征X荧光来测定磁层厚度,具有快速、非破坏、精度高等优点。本文叙述测量原理、探测装置考虑、干扰因素的排除及数据处理。测定厚度范围为0.5—15μm。当厚度大于1μm时,测量精度好于5％。
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| 关 键 词： | 能量色散 涂层 质量厚度 |
The thickness measurements of magnetic layer on aluminum disc packs by energy dispersive X-ray fluorescence analysis |
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| Wang Yuzheng Lin Jinxin Jiang Liren Gu Lianxue. The thickness measurements of magnetic layer on aluminum disc packs by energy dispersive X-ray fluorescence analysis[J]. Nuclear Techniques, 1986, 0(9) |
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| Authors: | Wang Yuzheng Lin Jinxin Jiang Liren Gu Lianxue |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | energy-dispersive coating mass thickness |
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