| 材料科学研究中电子显微学的成功应用（续） |
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| 引用本文： | 棍原節夫. 材料科学研究中电子显微学的成功应用（续）[J]. 理化检验(物理分册), 2001, 37(2): 68-75 |
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| 作者姓名： | 棍原節夫 |
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| 作者单位： | 日本金属材料技术研究所, |
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| 摘 要： | 3 高分辨电子显微技术在纳米结构研究中的应用在叙述高分辨电子显微技术 (HREM)应用的若干具体例子之前 ,首先指出常规电子显微技术(CVEM)与 HREM之间最基本的区别在于 CVEM只用一个电子束 (直接透射束或者衍射束 )成象 ,而HREM允许使用包括直接透射束在内的许多衍射束穿过物镜光阑成象。图 1 5简要地表示了使用CVEM明场 (a)、暗场 (b)成象以及 HREM成象 (c)方式。贡献于成象的斑点数目越多 ,图象质量愈佳。当然 ,可用的斑点数目也会受到电子显微镜物镜球差的限制。我们现在常取大约 1 0个斑点来获得HREM象。 HREM观察的其…
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| 关 键 词： | 材料科学研究 电子显微学 应用 HREM 纳米结构 |
| 文章编号： | 1001-4012(2001)02-0068-08 |
Benefits of electron microscopy in studies of materials science (continued) |
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