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高速并联ADC芯片采集系统设计
引用本文:肖笑玮,刘亚斌.高速并联ADC芯片采集系统设计[J].测试技术学报,2013(4):326-330.
作者姓名:肖笑玮  刘亚斌
作者单位:北京航空航天大学自动化科学与电气工程学院
摘    要:介绍了一种基于并联ADC芯片结构方式,实现了一种通用的、用相对较低速的ADC器件实现较高采样频率的数据采集系统的设计方法.所设计的系统以FPGA为核心器件,通过采用并联的两片AD9254模拟转换芯片作为一个数据采集通道,利用时钟芯片AD9516-3进行时钟时序分配,控制两片AD9254芯片轮询采样.实验结果验证了用两片150 MHz采样频率的ADC器件并联工作,能够使数据采集系统达到300MHz的采样频率,并能准确测试72 MHz的输入信号.

关 键 词:数据采集  并联ADC结构  轮询采样  AD9516  AD9254
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