|
|||||
|
|
| 电子元器件的失效机理和常见故障 | |
| 引用本文： | 王露.电子元器件的失效机理和常见故障[J].电脑迷,2017(5). |
| 作者姓名： | 王露 |
| 作者单位： | 重庆市中冉信息产业有限公司 重庆 400000 |
| 摘 要： | 组件具有广泛的故障模式.这些可以按不同的方式分类,例如时间或原因.故障可能是由过多的温度、过多的电流或电压、电离辐射、机械冲击、压力或冲击以及许多其他原因引起的.在半导体器件中,器件封装中的问题可能会导致由于器件的污染、机械应力、开路或短路而引起的故障.本文对电子元件的常见故障和失效机理进行了分析和总结. |
| 关 键 词： | 电子元件 失效机理 常见故障 |
| 本文献已被 万方数据 等数据库收录！ | |