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h-BN/Al2O3栅介质氢终端金刚石场效应晶体管
引用本文:王维,蔚翠,何泽召,周闯杰,郭建超,马孟宇,高学栋,冯志红.h-BN/Al2O3栅介质氢终端金刚石场效应晶体管[J].半导体技术,2022(9):687-691+724.
作者姓名:王维  蔚翠  何泽召  周闯杰  郭建超  马孟宇  高学栋  冯志红
作者单位:1. 中国电子科技集团公司第十三研究所;2. 专用集成电路重点实验室
摘    要:金刚石是实现高频大功率器件的理想候选材料,但是其较低的载流子迁移率制约了器件的性能,六方氮化硼(h-BN)作为氢终端金刚石场效应晶体管(FET)的栅介质材料有望提升金刚石材料的载流子迁移率。利用商业化大面积h-BN材料,制备了h-BN/Al2O3栅介质的氢终端金刚石FET,h-BN/Al2O3/氢终端金刚石材料的载流子迁移率得到提升,达到186 cm2/(V·s)。相较于Al2O3栅介质的金刚石FET,h-BN/Al2O3栅介质的金刚石FET最大饱和电流密度和最大跨导均得到提升,分别为141 mA/mm和9.7 mS/mm。通过电容-电压(C-V)测试计算了栅介质和金刚石间界面固定电荷密度和陷阱密度,h-BN/Al2O3栅介质的金刚石FET界面负固定电荷密度为5.4×1012 cm-2·eV-1...

关 键 词:金刚石  场效应晶体管(FET)  氢终端  六方氮化硼(h-BN)  栅介质
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