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电子战装备通用自动测试系统体系结构
引用本文:巩强,陈波. 电子战装备通用自动测试系统体系结构[J]. 电子信息对抗技术, 2013, 28(1): 72-76
作者姓名:巩强  陈波
作者单位:1. 海军驻成都电子设备军事代表室,成都,610036
2. 电子信息控制重点实验室,成都,610036
摘    要:通用性和开放性是自动测试系统的必然发展趋势。从硬件可扩展性设计、标准测试接口设计、软件平台开放性设计、测试程序面向信号设计等几个方面对通用自动测试系统的设计思路进行了分析。其技术思想和方案对于研制复杂电子战装备的通用检测设备有较好的借鉴意义。

关 键 词:通用性  自动测试系统  体系结构  面向信号  电子战装备

General Purpose Automated Test System Architecture of EW equipment
GONG Qiang , CHEN Bo. General Purpose Automated Test System Architecture of EW equipment[J]. , 2013, 28(1): 72-76
Authors:GONG Qiang    CHEN Bo
Affiliation:1.Electronics Equipments Military Representatives Office of Navy at Chengdu,Chengdu 610036,China;2.Science and Technology on Electronic Information Control Laboratory,Chengdu 610036,China)
Abstract:
Keywords:
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