一种基于二次模板匹配的晶圆对准方法

介绍了在二极管探针台测试晶圆过程中一种晶圆自动对准方法。在承片台上放置晶圆后,首先利用一次模板匹配实现对晶圆偏转角度的调整;然后,晶圆上的特征点移至CCD视场范围内,对初始特征点进行二次模板匹配,再将晶圆上的测试起点移至测试探针下方完成对准工作。