论偏最小二乘校正方法的稳定性 |
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引用本文: | 满瑞林,赵新那.论偏最小二乘校正方法的稳定性[J].中南工业大学学报,1997,28(6):595-598. |
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作者姓名: | 满瑞林 赵新那 |
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摘 要: | 研究了多元校正方法--偏最小二乘(PLS)在波长色散X射线荧光光谱分析中的应用,并将该法与传统的经验系数法(ECM)进行了比较,其考察对象为一组转炉渣文献数据,一组不锈钢样和一组锌精矿样。结果表明,PLS比ECM准确、稳定、经分析探讨,认为其主要原因是PLS能滤除噪音,文中建立了描述浓度和强度本质的关系式。
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关 键 词: | X射线荧光光谱 偏最小二乘 数学校正 稳定性 |
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