与(100)—InP晶格匹配的InGaAs的气相外延生长 |
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引用本文: | S.B.Hyder,R.R.Saxena,S.H.Chiao,R.Yeatz,徐振华.与(100)—InP晶格匹配的InGaAs的气相外延生长[J].半导体光电,1980(3). |
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作者姓名: | S.B.Hyder R.R.Saxena S.H.Chiao R.Yeatz 徐振华 |
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摘 要: | 本文描述了与(100)—InP衬底晶格匹配的In_(0.53)Ga_(0.47)As的气相外延生长,并给出了由这种材料制作的光电二极管的特性。确定了使用氢化物法,在不同的Ga—HCl流量下进行晶格匹配生长所需要的气体流量条件。研究了在650—750℃的温度范围内,衬底温度对进行晶格匹配生长所必需的气体流量比的影响。实验发现,在该温度范围内,生长速率从大约8μm/小时变化到约60μm/小时。测得表面反应的激活能为44千卡/克分子。用InP/In_(0.53)Ga_(0.47)As/InP结构制作的光电二极管表明,在1.22μm波长下,上升和下降时间≤1毫微秒,量子效率超过95%。
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