一种面向点云制造自由曲面的CMM自适应采样方法

通过分析点云制造过程,提出了一种面向点云制造自由曲面的CMM自适应采样方法。首先,提取点云边界并选择初始采样点,进而依据中间曲面与原始点云之间的偏差不断自适应地增加采样点,直至满足采样精度要求。并提出了相应的点云边界提取方法以及点云与自由曲面偏差的计算方法。最后,将所提方法与具有代表性的两种采样方法:基于高斯曲率的自适应采样和等参数采样进行了对比,并分别以三种方法得到的采样点在三坐标测量机上进行测量,通过测量结果及测量时间的对比验证了所提出的自适应采样方法能够在提高采样效率的同时保持较高的采样精度,且该方法不依赖于曲面的CAD模型,因此能够应用于点云制造自由曲面的测量及检测。