首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

微米、亚微米掩模等离子刻蚀技术初探
作者姓名:严剑荫  赵丽新  张仲毅
作者单位:中国华晶电子集团公司掩模中心!无锡,214061
摘    要:本文将着重阐述等离子刻蚀技术在制作超大规模集成电路中精细掩模的优越性及工艺原理。然后结合介绍等刻设备LFE501的特性和具体实验报告,分析等刻技术在进入实用阶段时的技术难点。最后简述一下等刻技术在掩模工艺中的应用前景和由此带来的经济效益。

本文献已被 CNKI 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号